＜半導体の放熱評価のための＞過渡熱抵抗測定の基礎と測定ノウハウおよび構造関数の活用方法

セミナー趣旨、ポイント

　近年、我々を取り巻く電子機器の小型軽量化がますます進み、設計者にとっては放熱設計が一段と難しくなってきています。過渡熱抵抗測定（単に過渡熱測定とも呼ばれます）は発熱源からアンビエントに至る放熱経路を明らかにする測定手法です。放熱経路に存在する各部材の寄与度合いを明らかにすることができ、新材料の検討、不良解析、耐久試験前後の相対比較など、さまざまな分野で活用されています。開発期間の短縮のためにシミュレーションの活用場面が増えてきていますが、シミュレーションと実機の乖離を埋めるためにも過渡熱測定の測定結果がしばしば使われます。
　過渡熱測定は、測定対象物に電線をつなぎ電流を流して電圧を測るだけの試験です。しかし、単に電流を流して電圧を読み取るだけでも、正しく測定をするためのノウハウがございます。また、最近話題の化合物半導体などの新しいデバイスの測定においては、ひと工夫必要です。本講演ではそのあたりを紹介したいと思います。
　放熱設計に携わる方に対し、この業界で10年以上過渡熱測定の有用性を紹介してきました。皆様がどのような課題を抱え、どのような苦労をされ、どのようにそれらを乗り越えて来られたかを総括いたします。先人たちの知恵、工夫など、過渡熱測定経験者には復習を兼ねて、これから過渡熱測定を始めるという方には測定をジャンプスタートできるようにするための内容をご提供できればと思っています。

こんな方におすすめ

• 半導体の熱対策で苦労されている方（熱対策から熱設計に持っていきたい方）
• 半導体の放熱評価で熱電対、サーモグラフィーで苦労されている方
• 過渡熱抵抗測定を始める方、まだしっくり来ていない方
• 半導体パッケージの熱流体シミュレーション結果が実機と合わず、苦労されている方
• 構造関数の使い方にまだ自信がない方
• 半導体設計をされている方（特にパッケージング）
• 放熱材料を開発されている方

得られる知識

• 過渡熱抵抗測定の基礎知識
• 過渡熱抵抗測定の活用事例（測定事例、シミュレーションとのコラボ）
• 過渡熱抵抗測定の測定ノウハウ（やっていいこと・わるいこと）
• 電気系エンジニアが陥りがちな2つの罠、およびそれらの回避方法