信頼性

セミナー概要 セミナーのテーマ 半導体テストの基礎と重要性 論理回路テストの生成と容易化設計 AIやセキュリティとテスト技術の最新動向 こんな方におすすめです 半導体の設計や製造に関わる方 電子機器の開発に携わる方 テスト技術の最新動向に興味のある方 半導体テスト技術の基礎と動向 品質、信頼性、セキュリティ、コスト、歩留まり etc.生成AI時代の半導体・電子機器を支える基盤技術を学ぶ ── 半導体技術の進化・複雑化によりその重要性を増すテストを学ぶ ──半導体テストの種類・意義などの基礎知識から、最新技術動向、そしてAI用等の半導体で非常に重要となる理論回路のテスト技術については、テスト品質とテストコストを両立させるポイントも含めて詳説します。 講師 (株)EVALUTO 講師・技術コンサルタント 工学博士 畠山 一実 氏【専門】テスト設計技術，高信頼化技術1982年に京都大学大学院博士後期課程を修了(工学博士)。以降，(株)日立製作所，(株)ルネサステクノロジ，(株)半導体理工学研究センター及び奈良先端科学技術大学院大学にてテスト設計技術等の研究開発に従事。その後，群馬大学にてテスト設計技術に関する研究に協力するとともに，日本大学等にて非常勤講師を担当。 セミナー趣旨、ポイント ChatGPTやGemini等の生成AIが広く普及するとともに、その処理に要する計算能力を供給する半導体の需要は非常に高まっています。また、電気自動車やスマートシティなどでも電子システムが中心的な役割を担っています。さらに、半導体はデジタル変革(DX)のキーデバイスともなっており、半導体集積回路やそれを使用する電子機器の品質、信頼性及びセキュリティは益々重要となっています。このような背景のもと、これらの重要な要件を支える基盤技術として、半導体テスト技術に対する注目が高まっています。 そこで、本講演では、半導体テスト技術について基礎から分かりやすく紹介します。とくに、AI用等の半導体で非常に重要となる論理回路のテスト技術に関して、実際にテストに用いるテストパターンを作成する「テスト生成」及びテスト生成を実用的な時間で可能にする「テスト容易化設計」について、テスト品質とテストコストを両立させるポイントを含めて詳しく説明します。さらに，最新の技術動向として，自動車用半導体等でとくに重要となる「高品質テスト」，テスト技術への「AI」の活用，テスト技術と「セキュリティ」の関わりについて最近の国際会議の論文に基づいて紹介します。 こんな方におすすめ ・半導体の設計や製造に関わる方・電子機器の開発に関わる方※とくに予備知識は必要ありませんが、論理回路の基礎知識があればより理解が深まります。 得られる知識 ・半導体テストに関する基礎知識・論理回路テストに関する一般知識・テスト技術の動向に関する知識 プログラム １．半導体のテストについて ・半導体のライフサイクルにおけるテストとその意義 ・テストの種類とテスト装置 ・テストコストについて ・テスト品質について２．テスト設計技術 2.1 テスト生成技術 ・故障モデル ・故障シミュレーション ・テスト生成アルゴリズム 2.2 テスト容易化設計技術 ・スキャン設計 ・組込み自己テスト３．最新テスト技術動向 3.1 高品質テスト技術 ・故障モデルの高度化 ・アナログテストの高品質化 3.2 テストへのAI応用 ・AI応用による品質向上 ・AI応用によるコスト削減 ・AI応用による歩留り向上 3.3 テストとセキュリティ ・回路の難読化 ・偽造ICへの対策４．まとめ □質疑応答□

積層セラミックコンデンサ（MLCC）の材料設計、製造プロセス技術

＜実際の市場故障をもとに考える＞電子機器の故障メカニズムと未然防止・故障解析のポイント

半導体テスト技術の基礎と動向