高分子材料における結晶化プロセスの基礎、構造形成とその制御および構造解析技術

プログラム

1．高分子結晶及び結晶化プロセスの基礎とその制御
　1.1 「結晶」とは何か
　　1.1.1 「結晶」の定義
　　1.1.2 結晶はなぜ生成するか
　1.2 高分子結晶の構造的特徴
　　1.2.1 低分子結晶との対比
　　1.2.2 線状高分子の凝集構造
　　1.2.3 高分子結晶特有の高次構造（ラメラ晶、球晶、繊維構造）
　1.3 高分子結晶の生成プロセス
　　1.3.1 結晶核の形成
　　1.3.2 二次核生成→生長
　　1.3.3 結晶化速度
　　1.3.4 結晶化温度と融点
　1.4 物性との関わりとその制御・評価法
　　1.4.1 結晶化度の評価法
　　1.4.2 融点の評価法
　　1.4.3 分子構造の規則性（融点への影響、結晶成長への影響）
　　1.4.4 配向（結晶化と物性への影響）
　　1.4.5 分子量（結晶化、機械的物性、成形性への影響）
　　1.4.6 球晶サイズ（機械的物性と透明性への影響）
　1.5 高分子結晶化の特性を活用した加工技術の例
　　1.5.1 ゲル紡糸
　　1.5.2 ナノ配向結晶体（NOC）

2．構造解析法1－顕微鏡法
　2.1 「見える」ための必要条件
　　2.1.1 分解能（波長による限界、結像による限界、試料による限界）
　　2.1.2 コントラスト（明暗、色）
　2.2 光学顕微鏡
　　2.2.1 照明法について（透過、落射）
　　2.2.2 対物レンズ
　　2.2.3 偏光顕微鏡
　　2.2.4 微分干渉顕微鏡
　2.3 電子顕微鏡
　　2.3.1 走査型電子顕微鏡
　　2.3.2 透過型電子顕微鏡（明視野像観察、電子回折、暗視野観察、三次元像）
　2.4 原子間力顕微鏡
　　2.4.1 AFMの原理
　　2.4.2 測定上の留意点（試料作成、フィードバックパラメータ）

3．構造解析法2－回折・散乱による方法
　3.1 回折・散乱の基礎
　　3.1.1 ブラッグ回折
　　3.1.2 フーリエ変換
　　3.1.3 逆空間
　3.2 結晶の回折
　　3.2.1 逆格子（回折反射の指数、エヴァルト球、限界球）
　　3.2.2 乱れた結晶からの回折（回折点の広がりの解釈）
　　3.2.3 多結晶体の回折（粉末図形、繊維図形）
　　3.2.4 微結晶サイズの評価（シェラーの式）
　　3.2.5 データ処理の実例
　　3.2.6 電子回折
　3.3 小角散乱
　　3.3.1 積層ラメラの回折
　　3.3.2 インバリアント
　3.4 放射光を用いた解析の実例
　　3.4.1 高速時分割測定
　　3.4.2 マッピング

質疑応答