セミナー概要
セミナーのテーマ
- FT-IRを活用した異物分析
- 異物発生から問題解決までのプロセス
- FT-IR測定・解析の基礎と応用
こんな方におすすめです
- 異物分析の基礎知識を習得したい方
- FT-IRの活用方法を学びたい方
- 異物クレーム対応や問題解決能力を向上させたい方
セミナータイトル | FT-IRを使用した異物分析 |
開催日時 | 【ライブ配信】 2025年11月26日(水)13:00~17:00 【アーカイブ配信】 |
開催場所/配信の補足・注意事項 | 【持参物】 |
受講料 | 49,500円(税込、資料付) ■会員(案内)登録していただいた場合、通常1名様申込で49,500円(税込)から |
主催 | R&D支援センター |
受付中
FT-IRを使用した異物分析
~異物発生から問題解決まで~
講師
あなりす 代表(工学博士・キャリアコンサルタント) 岡田 きよみ 氏
<略歴>
1984-2005 王子ホールディングス株式会社
<神埼製紙合併→新王子製紙合併→王子ホールディング>
(主に、フィルム製品の開発および分析業務担当、上級研究員)
2006-2016 株式会社パーキンエルマージャパン (分光分析関係シニアスペシャリスト)
2016-2019 京都大学 工学研究科 (セルロースナノファイバー関係 特定研究員)
2017- あなりす(分析コンサルタント、受託分析会社)
セミナー趣旨、ポイント
本セミナーは、FT-IRを異物分析で活用すること、問題解決や解析において関係者間の情報が重要であることに焦点をあてたセミナーです。
異物分析において重要なことは、迅速かつ簡便に原因を知り、異物クレームへ の対処や異物発生の抑制へとつなげることにあります。本講演では、目に見える数百µm~の異物を対象に、異物の収集方法やその際に確認すべき情報と提供すべき情報、FT-IRを使用した測定と解析方法、問題解決といった一連の流れを解説します。問題解決までの一連の操作がご理解いただけるように、なるべく多くの事例を用いて話を進めていきます。
異物の分析手順、FT-IRの基礎的事項の確認、本体のATR法を中心に測定方法別のきれいなスペクトルを得るコツ、解析方法、実施例と話を進めていきます。
得られる知識
・異物発生から問題解決までの流れ
・FT-IRできれいなスペクトルを得るコツ
・FT-IRを使用した異物解析方法
・問題解決におけるコミュケーションの大切さ
プログラム
1.はじめに
1-1.分析の目的
1-2.コミュニケーション
2.異物の概要
2-1.異物とは何か
2-2.異物の種類
3.異物の分析方法
3-1.異物分析で大切なこと
3-2.異物分析の手順
3-3.製造工程でわかること
3-4.観察でわかること
3-5.異物のサンプリングと失敗例
3-6. 情報収集
3-7.問題解決に向けてのアプローチ
4.FT-IRの概要と解析
4-1.異物分析の中のFT-IR
4-2.FT-IRの概要
a.FT-IRでどんな情報が得られるのか
b.FT-IR測定での約束事
4-3.異物でよく使用されるFT-IRの測定方法
4-4.異物の大きさと空間分解能
4-4.測定方法別のきれいなスペクトルを得るコツ
4-5.FT-IR測定のためのサンプリングと前処理
4-6.スペクトルの解析
a.よく使われるスペクトルの処理とそれを使用した解析
b.データベースをうまく使う
c.問題解決のための解析とは何か
5.FT-IR以外の分析装置
5-1.SEM-EDS
5-2.蛍光X線
5-3.GC、GC-MSおよびLC
6.異物分析の事例(各項目を数例紹介)
6-1.分散不良による異物分析
6-2.食品中の異物分析
6-3.劣化に起因した異物分析
6-4.歩留まり向上のための異物分析
6-5.再現実験によって起因物質を検証した異物分析
6-6.FT-IRではできなかった不具合分析
7.よくある質問
7-1.サンプリングに関すること
7-2.スペクトルに関すること
7-3.その他
8.質疑応答
受付中