テスト生成

半導体・論理回路テストの基礎と応用～設計から高品質テストなどの最新動向まで～

• 開催日2025年10月23日
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• 半導体

半導体テストの基礎から応用までを解説するセミナー。高品質化、AI活用、セキュリティとの関係性など、最新技術動向を紹介。論理回路テスト、テスト生成、テスト容易化設計に焦点を当て、品質とコストの両立を目指す。半導体システムの品質向上に貢献。